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高低温冷热冲击试验箱

简要描述:高低温冷热冲击试验箱为待测品静态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在先进的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱后部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环.低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环.该冲击试验箱的最大特点是:试件(待测品)静止不动

  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-07
  • 访  问  量: 757

详细介绍

品牌联往检测价格区间10万-20万
产地类别国产应用领域生物产业,电子,航天,制药,汽车

高低温冷热冲击试验箱为待测品静态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在先进的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱后部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环.低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环.该冲击试验箱的最大特点是:试件(待测品)静止不动,使用户避免了因试件移动带来的诸多不便.

高低温冷热冲击试验箱符合标准

1.GB/T2423.22-93试验Na 电工电子产品环境试验 温度冲击试验

2.GJB360.7-87温度冲击试验方法

3.GJB367.2-87 405温度冲击试验方法

4. GJB150.5-1986温度冲击试验

主要技术参数

    型号

工作室(W×D×H(mm)

外型(约)( W×D×H(mm)

LWGDWCJ-50

350×350×400

1600×1500×2000

LWGDWCJ-100

450×450×500

1700×1600×2100

LWGDWCJ-150

500×500×600

1750×1600×2100

LWGDWCJ-225

500×600×750

1800×2000×2100

LWGDWCJ-250

600×600×700

1900×2000×2100

LWGDWCJ-408

600×800×850

1900×2500×2150

LWGDWCJ-500

700×800×900

2000×2500×2150

LWGDWCJ-800

800×1000×1000

2100×2700×2200

LWGDWCJ-010

1000×1000×1000

3500×3500×2200

低温室温度范围: RT~-70℃       按要求定制

高温室温度范围: RT~+200℃      按要求定制

冲击温度范围:  -20℃ -40℃ -50℃ -60℃ ( +80   +120℃ +160℃)可以按照要求选定

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